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Zernike多项式拟合干涉波面的基本原则
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中图分类号:

O43


The Principle of Fitting Interferogram with Zernike Polynomials
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    摘要:

    全面分析了用Zernike多项式拟合光学干涉波面的方法及其过程,找到了在拟合计算过程中出现“相关”或“病态”的原因,由此得到了用Zernike多项式拟合光学平面干涉波面应遵守的基本原则——Zernike多项式拟合干涉波面的阶不能大于被测光瞳内干涉条纹的数量,以避免拟合计算过程中出现“相关”或“病态”,保证了干涉检测结果的可靠性。

    Abstract:

    The reason of "correlativity" or "ill-condition" in the fitting calculation has been found and a basic rule to fit interferogram with Zernike polynomials has been obtained by systematically analyzing the fitting method and course, i.e. the order of Zernike polynomial to fit interferogram should be less than the number of interference fringes in the diaphragm. By the rule " correlativity" or "ill-condition" in fitting calculation can be absolutely avoided, thus the reliability of interferometry is ensured.

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莫卫东. Zernike多项式拟合干涉波面的基本原则[J].空军工程大学学报,2002,(3):35-38

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  • 在线发布日期: 2015-11-17